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	NI15-M30-AD4XBI5-M18-AN6X接近開關LJ30A3-10-Z/DX	BI5-M18-AN6X接近開關LJ30A3-10-Z/DX 接近開關是一種無需與運動部件進行機械直接接觸而可以操作的位置開關，當物體接近開關的感應面到動作距離時，不需要機械接觸及施加任何壓力即可使開關動作，從而驅動直流電器或給計算機（plc)裝置提供控制指令。
	NI10-Q25-AP6XBI10-G30-Y1X接近開關LJ30A3-10-Z/EX	BI10-G30-Y1X接近開關LJ30A3-10-Z/EX 接近開關是一種無需與運動部件進行機械直接接觸而可以操作的位置開關，當物體接近開關的感應面到動作距離時，不需要機械接觸及施加任何壓力即可使開關動作，從而驅動直流電器或給計算機（plc)裝置提供控制指令。
	BI10-M30-AP6XNI10-G18-AP6X接近開關LJ30A3-10-Z/CY	NI10-G18-AP6X接近開關LJ30A3-10-Z/CY 接近開關是一種無需與運動部件進行機械直接接觸而可以操作的位置開關，當物體接近開關的感應面到動作距離時，不需要機械接觸及施加任何壓力即可使開關動作，從而驅動直流電器或給計算機（plc)裝置提供控制指令。
	LJ24A3-8-Z/BXJD-1805E1接近開關JWK24-A20PJ	JD-1805E1接近開關JWK24-A20PJ 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	YSLJ-SXKZQWK008K234接近開關JWK24-A20P	WK008K234接近開關JWK24-A20P 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJ18A-3-8-J/EZNi15-G30-OP6L接近開關JWK220-D10JK	Ni15-G30-OP6L接近開關JWK220-D10JK 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	Bi2-M12-AP6XKSJ-100接近開關JWK220-A10JK	KSJ-100接近開關JWK220-A10JK 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	NI15-G30-Y1XNI20-CP40-RN6X2接近開關LJ20A41-10-Z/BX	NI20-CP40-RN6X2接近開關LJ20A41-10-Z/BX 接近開關是一種無需與運動部件進行機械直接接觸而可以操作的位置開關，當物體接近開關的感應面到動作距離時，不需要機械接觸及施加任何壓力即可使開關動作，從而驅動直流電器或給計算機（plc)裝置提供控制指令。
	NI15-M30-RZ3XNI15-M30-RP6X接近開關SC-2025S	NI15-M30-RP6X接近開關SC-2025S 接近開關是一種無需與運動部件進行機械直接接觸而可以操作的位置開關，當物體接近開關的感應面到動作距離時，不需要機械接觸及施加任何壓力即可使開關動作，從而驅動直流電器或給計算機（plc)裝置提供控制指令。
	Ni4-M12-AP6XLM12-3004NA接近開關HY-2020B	LM12-3004NA接近開關HY-2020B 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJ30A3-15-Z/DXSQS1062-051DK接近開關HY-3020CD	SQS1062-051DK接近開關HY-3020CD 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	J7-A10A1/WJK-F-LH25接近開關XS118BLPBL2C	JK-F-LH25接近開關XS118BLPBL2C 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	J4-D8V1JK-F-PH25接近開關BEM30-A15AF-T150	JK-F-PH25接近開關BEM30-A15AF-T150 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	NBN8-18GM60-WSLJM30A-15Z/PKS接近開關LJ2L-15G-4/124	LJM30A-15Z/PKS接近開關LJ2L-15G-4/124 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJ18A3-5-J/EZLJM30T-10Z/NKS接近開關LJ2L-15G-4/123	LJM30T-10Z/NKS接近開關LJ2L-15G-4/123 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJ30A3-10-J/EZLJ2L-15G-4/122接近開關CJK-1Z	LJ2L-15G-4/122接近開關CJK-1Z 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	E2G-M30KS10-WS-C1HJ-2050A接近開關E2E-X1B2	HJ-2050A接近開關E2E-X1B2 在各類開關中，有一種對接近它物件有“感知”能力的元件——位移傳感器。利用位移傳感器對接近物體的敏感特性達到控制開關通或斷的目的，這就是接近開關。
	JM30-15N3KBi5-M18-AZ3X接近開關LJ2P-15G/222	Bi5-M18-AZ3X接近開關LJ2P-15G/222 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJM30A-15J/KS90-250VNi30-CP40-AP6X2接近開關LJ2P-15G/221	Ni30-CP40-AP6X2接近開關LJ2P-15G/221 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的
	LJK18-3420KHLJ2P-15/225接近開關LJM30T-15J/KS	LJ2P-15/225接近開關LJM30T-15J/KS 電感式接近開關工作原理電感式接近開關由三大部分組成：振蕩器、開關電路及放大輸出電路。振蕩器產生一個交變磁場。當金屬目標接近這一磁場，并達到感應距離時，在金屬目標內產生渦流，從而導致振蕩衰減，以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級放大電路處理并轉換成開關信號，觸發驅動控制器件，從而達到非接觸式之檢測目的

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